露點(diǎn)分析儀從原理上主要主流的可分為冷鏡式、氧化鋁電容式、薄膜電容式、高分子電容式等等。其中氧化鋁電容式露點(diǎn),露點(diǎn)分析儀一般用于低濕范圍的測(cè)量,冷鏡式、薄膜電容式露點(diǎn)分析儀則不僅能用于低濕的測(cè)量,還能用于中高濕,即相對(duì)濕度的測(cè)量。
上述各種原理的儀器各有其優(yōu)缺點(diǎn)。其中冷鏡式露點(diǎn)儀是*準(zhǔn)確、*可靠、*基本的測(cè)量方法,被廣泛地用于標(biāo)準(zhǔn)傳遞,但其缺點(diǎn)是價(jià)格比較昂貴,并需要有經(jīng)驗(yàn)的人操作及保養(yǎng)。
1.鏡面式露點(diǎn)儀 不同水份含量的氣體在不同溫度下的鏡面上會(huì)結(jié)露。采用光電檢測(cè)技術(shù),檢測(cè)出露層并測(cè)量結(jié)露時(shí)的溫度,直接顯示露點(diǎn)。鏡面制冷的方法有:半導(dǎo)體制冷、液氮制冷和高壓空氣制冷。鏡面式露點(diǎn)儀采用的是直接測(cè)量方法,在保證檢露準(zhǔn)確、鏡面制冷高效率和精密測(cè)量結(jié)露溫度前提下,該種露點(diǎn)儀可作為標(biāo)準(zhǔn)露點(diǎn)儀使用。目前精度達(dá)到±0.1℃,目前生產(chǎn)冷鏡式露點(diǎn)儀的公司,基本都是采用這一原理。
2.薄膜電容式露點(diǎn)儀 采用薄膜電容材料,一般精度可達(dá)到±3℃以內(nèi),一般測(cè)量-55℃以上的露點(diǎn)。
3.高分子電容式露點(diǎn)儀 采用高分子電容材料,一般精度可達(dá)到±3℃以內(nèi),一般測(cè)量-60℃以上的露點(diǎn)。
隨著現(xiàn)代科學(xué)技術(shù)的發(fā)展,人們將光電技術(shù),新材料技術(shù),紅外技術(shù),微波技術(shù),微電子技術(shù),光纖技術(shù),聲學(xué)技術(shù)甚至納米技術(shù)應(yīng)用于氣體中水分的測(cè)量。 約克儀器的技術(shù)人員根據(jù)測(cè)量原理,對(duì)氧化鋁,高分子,陶瓷等不同傳感器進(jìn)行了比較分析和研究,采用了不同的技術(shù)方法和方法?!∥覀円呀?jīng)從許多直接和間接測(cè)量氣體中微量水分的儀器和設(shè)備,解決了在不同領(lǐng)域和環(huán)境中測(cè)量微量水分的問(wèn)題。